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            光學(xué)篩選機(jī)

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            晶體顆粒高速檢測機(jī)

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            • 顆粒狀物料雜質(zhì)缺陷高速分選機(jī)
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            顆粒狀物料雜質(zhì)缺陷高速分選機(jī)

            類別:晶體顆粒高速檢測機(jī)

            簡介:顆粒狀物料雜質(zhì)缺陷高速分選機(jī),高速線掃相機(jī)檢測,輸送帶檢測機(jī)臺

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            • 產(chǎn)品介紹

            CCD高速檢測分選機(jī)可以實現(xiàn)對顆粒狀、粉末狀等物體雜質(zhì)混料檢測分選,分選速度快,檢測精度高,篩選干凈,特別適用于晶體、礦物質(zhì)、金屬顆粒等行業(yè)的檢測分選。

            可根據(jù)行業(yè)產(chǎn)量需要,靈活選用高速、中速、低速檢測機(jī)型,適應(yīng)不同產(chǎn)量的需求。

            設(shè)備簡介:設(shè)備采用振動料斗快速上料,工業(yè)相機(jī)快速檢測,一旦發(fā)現(xiàn)雜質(zhì)或者次品或者混料,達(dá)到剔除工位將會自動剔除,效率較高,技術(shù)上屬于國內(nèi)首創(chuàng)。



            采用高速先掃描相機(jī)

            輸送帶式檢測機(jī)臺

            長度3米

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